JADE 

 科學(xué)家信賴的產(chǎn)品

JADE 

Scientist Trust  XRD Applications

JADE智能化分析XRD數(shù)據(jù)

 — 分析結(jié)果更快、更準(zhǔn)

• JADE采用啟發(fā)式方法自動(dòng)進(jìn)行分析，自動(dòng)檢測(cè)文件格式；
• JADE可自動(dòng)擬合背景、尋峰、鑒定物相以及標(biāo)定品質(zhì)因數(shù)（FOM）；
• JADE可批量進(jìn)行Rietveld分析，分析結(jié)果可直接用于文章發(fā)表或?qū)W術(shù)報(bào)告；
• JADE提供新數(shù)據(jù)的檢索方法和數(shù)據(jù)分析方法，快速準(zhǔn)確提供分析結(jié)果；
• JADE可兼容大部分晶體學(xué)數(shù)據(jù)庫(kù)，包括PDF數(shù)據(jù)庫(kù)，Amc, CIF等，支持用戶自定義數(shù)據(jù)庫(kù)；
• JADE獨(dú)立于硬件制造商，專(zhuān)注于開(kāi)發(fā)XRD數(shù)據(jù)分析應(yīng)用軟件；
• JADE可兼容所有衍射儀生成的文件格式，包括同步輻射、理學(xué),布魯克(Siemens),馬爾文帕納科(Philips), ARL賽默飛(Scintag),島津, Proto, XOS, X-Y格式以及其他格式的數(shù)據(jù)；
• JADE對(duì)任何衍射儀測(cè)試的數(shù)據(jù)均可得到無(wú)偏見(jiàn)的分析結(jié)果，致力于追求準(zhǔn)確的、無(wú)偏見(jiàn)的XRD分析和結(jié)果；

JADE Standard（標(biāo)準(zhǔn)版）

JADE Standard在基礎(chǔ)版本上，有兩個(gè)可選功能模塊，即Search/Match(S/M，物相檢索)和Whole PatternFitting (WPF，全譜擬合，終身授權(quán)，無(wú)需更新。結(jié)合PDF數(shù)據(jù)庫(kù)，是您分析粉末XRD數(shù)據(jù)的完美組合。